패키징 기술의 진보 이 보고서에서는 최근 다시금 부각되고 있는 패키징 기술 개발방향에 부합하는 상용화 재료를 구현하기 위해 재료 공급업체들이 어떻게 집중적인 투자를 해왔는지를 살펴봅니다. 더 보기
백서: 방열 그리스를 뛰어넘는 기술 혁신: 방열 및 신뢰성 향상 실리콘 소자를 기반으로 하는 전력전자 제품은 125°C 미만에서만 사용해야 하고, IGBT의 경우에도 150°C를 넘지 않아야 합니다. 그러나 미래의 탄화규소(SiC) 소자는 이 온도 한계를 200°C로 확장하게 됩니다. 전력전자 제품의 열관리를 위해서는 방열재료(TIM)를 사용해 패키지를 히트 싱크(heat sink)에 부착시켜야 합니다. 더 보기
MEMS 성능 향상을 위한 맞춤형 실리콘 재료 헨켈은 계수, 모듈러스, 색상 등 주요 특성의 변경이 가능하고 재료 사용 시 긴 공정 윈도우를 제공하여 견고한 기능과 장기 신뢰성 향상을 실현하는 맞춤형 실리콘 플랫폼을 개발했습니다. 더 보기
미드칩 솔더 볼 제거: 미드칩 솔더 볼 발생에 대한 이해와 문제 해결을 위한 실용 가이드 이 기술 자료에서는 부품 크기 및 유형, 스텐실 설계 규칙, 솔더 페이스트 특성과 미드칩 볼링(mid-chip balling) 발생 간의 관계에 대한 헨켈의 연구 결과를 소개합니다. 더 보기
외부환경 노출이 RF 접지용 전기 전도성 필름 접착제의 성능에 미치는 영향 이 보고서에서는 지난 20여년간 전자 업계에서 널리 사용되어 온 전기 전도성 필름 접착제의 성능과 외부환경 노출에 대한 저항력을 높이기 위해 새롭게 개발된 필름의 성능을 비교합니다. 더 보기
백서: 에폭시 플럭스 기술 공정 효율 향상을 위해 개발된 에폭시 플럭스 언더필 제품은 솔더조인트 형성을 돕는 플럭싱 컴포넌트를 실현하고 돌출된 각 부위를 캡슐화하여 소자 보호를 강화합니다. 더 보기
대형 다이 자동차 적용 분야를 위한 고성능 전도성 필름 기술: MSL 및 보드 수준의 노출 패드 성능 이 글에서는 1x1 mm2 ~ 10x10 mm2의 다이를 대상으로 한 전도성 다이 접착 필름(cDAF) 기술의 신뢰성 시험에 대해 다룹니다. 더 보기
2018-05-24 백서: 고출력 밀도 적용 분야를 위한 새로운 방열재료 헨켈이 새롭게 선보이는 버퀴스트 갭 패드 재료 GAP PAD HC 5.0은 차세대 고출력 밀도 장치 분야에서 날로 증가하는 저응력 재료에 대한 요구를 충족시키기 위해 완전히 새로운 화학 플랫폼과 당사 고유의 필러 기술을 기반으로 개발되었습니다. 더 보기